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奥林巴斯上市透射波波前测定干涉仪拟用于光盘装置的光学元件

DATE	2007/06/11

　　【日经BP社报道】

透射波波前测定干涉仪“KIF-PU”

　　奥林巴斯（Olympus）将于2007年8月1日开始销售用于检查DVD、HD DVD以及蓝光光盘等光盘装置激光头用镜片等光学元件的透射波波前测定干涉仪“KIF-PU”。该干涉仪体积小、价格低、操作简便，主要面向亚洲的生产工厂。

　　透射波波前测定干涉仪利用光的干涉原理，使来自基准——参照面的反射光和来自被检面的反射光重合在一起，记录因相位差而产生的干涉条纹，从而测定被检物的表面形状和透射波波前象差。由于精度越来越高的光学读写头用镜片的生产已经从日本国内转移到亚洲、特别是中国，所以急需所有操作人员都可简单进行检查的装置。

　　此次的KIF-PU通过将检查对象的范围缩小到了光盘装置用光学元件的生产线，实现了装置主体的小体积、低价格、操作简便。装置的外观尺寸为330×465×460mm3，主体的重量大约为22kg。日本国内价格为1575万日元（含税）。此前一家生产工厂内最多安装一台的干涉仪，现在则可以每条生产线安装一台。

　　操作的简化方面，只需安装被检镜片、按下测定按钮，不论操作人员熟练程度如何，都可以在短时间内进行稳定的测定。具体而言，通过自主开发的高分辨率多轴控制系统，自动进行透射波波前测定时的测定光学仪器的零点调整（Null调整）。这样一来，即使是开口数（NA）较大的光学读写头用镜片的透射波波前测定，也可以将调焦导致的测定误差降低到最低限度。

　　配备有波长405nm和波长650nm的光源，利用两种光源，可在圆偏振光测定和直线偏振光测定间进行切换。通过光源偏振光情况的切换，不只是玻璃，连塑料等的光学元件的透射波波前都可以测定。（记者：木村雅秀）

■日文原文
オリンパス，光ディスク装置の光学素子向け透過波面測定干渉計を販売

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