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【ISSCC】东芝开发出2Mbps高速物理随机数发生电路

DATE	2008/02/14

　　【日经BP社报道】

将噪音源元件和后期处理电路分开。数据提供：东芝。

还减小了A-D转换电路的面积。数据提供：东芝。

　　东芝开发出了能够以2Mbps的速度产生物理随机数的电路技术。新技术改良了噪音源元件及整个电路构造，实现了面积比原来小近9成的小型物理随机数发生电路。目标是应用于IC卡和便携终端的安全保护用途。

　　东芝原来一直采用多谐振荡器（Multi Vibrator）型噪音发生电路。在振荡电路中串联噪音源元件。这种方式存在噪音生成率依赖于元件电阻值的问题。此次则将噪音源元件和后期处理电路（转换为数字信号）分开，可选择性地提取噪音源元件产生的高频噪音信号。从而将随机数的生成率由原来的0.3Mbps提高至7倍左右的2Mbps。

　　另外，此次采用的噪音源元件是该公司自主开发的，利用了晶体管的SiN膜捕捉或放出电子时产生的噪音。将晶体管制成“Nano Size”的小尺寸，可高效率产生高频噪音信号。这样包括噪音源元件在内的整个电路面积，比原来的物理随机数电路减少了86.6％，仅为1200μm²。通过提高单位面积的生成率，“实现了拥有全球最佳性能的物理随机数发生电路”（东芝）。

　　对于生成的随机数，东芝在－50℃～100℃的温度范围内实施了标准统计测试，确认其没有规律性和温度依赖性。证实可在普通IC卡的使用温度环境下，稳定生成随机数。（记者：小岛郁太郎）

■日文原文
【ISSCC】東芝，2Mビット/秒の高速物理乱数発生回路を開発

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